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端子截面分析仪-线束剖面分析仪-切割研磨机

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金相显微镜 BX51M-IR…

BX51IR显微镜可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片…[详细]

金相显微镜 BX51M

奥林巴斯BX51M是科研级正置金相显微镜,涵盖所有观察方式。具备先进的UIS 2光学系统,提供优越的光学图…[详细]

金相显微镜 BX61

金相显微镜[详细]

金相显微镜

品牌:Olympus/奥林巴斯 型号:BXFM-S 重量:6.2(kg) 规格:394*334*276mm[详细]

金相显微镜

OLYMPUS MX61/61L 产品特点缩短检查用时,提高检查效率自动聚焦附件 MX-AF透射光检查照明 MX-TILLA/MX…[详细]

MX63/MX63L 半导体/F…

MX63系列的各种观察功能可生成清晰的图像,让用户能够对样品进行可靠的缺陷检测。全新照明技术以及奥林…[详细]

MX51工业检测显微镜

MX51主要操作部件集中在前面,操作人员易于操作,即使长时间操作也不会感到疲劳。专用150mm载物台内置…[详细]

BX53M工业正置显微镜…

BX53M系列采用了模块化设计,为广泛的材料学和工业应用提供了多样化的解决方案。BX53根据工业和材料学…[详细]
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端子截面分析仪
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